SFERA Archivio dei prodotti della Ricerca dell'Università di Ferrara

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Nonlinear Modelling of GaN Transistors: Behavioural and Analytical Approaches 2015 Raffo, Antonio; Bosi, Gianni; Vadala', Valeria; Vannini, Giorgio file con accesso da definire
C-Band Power Amplifier Design Based on Low-Frequency Waveform Engineering 2015 Cipriani, E.; Colantonio, P.; Giannini, F.; Bosi, Gianni; Raffo, Antonio; Vadala', Valeria; Vanni...ni, Giorgio file con accesso da definire
Extraction of accurate GaN HEMT model for high-efficiency power amplifier design 2015 Vadala', Valeria; Raffo, Antonio; Avolio, Gustavo; Marchetti, Mauro; Schreurs, Dominique M. M. P;... Vannini, Giorgio file con accesso da definire
Fast extraction of accurate I/V models for harmonically-tuned power amplifier design 2016 Vadala', Valeria; Raffo, Antonio; Bosi, Gianni; Vannini, Giorgio; Colantonio, Paolo; Giannini, Fr...anco file con accesso da definire
Dynamic-Bias S-Parameters: A New Measurement Technique for Microwave Transistors 2016 Avolio, Gustavo; Raffo, Antonio; Vadala', Valeria; Vannini, Giorgio; Schreurs, Dominique M. M. P.
Low-frequency time-domain characterization for fast and reliable evaluation of microwave transistor performance 2016 Bosi, Gianni; Raffo, Antonio; Vadala', Valeria; Trevisan, Francesco; Vannini, Giorgio; Cengiz, Om...er; Sen, Ozlem; Ozbay, Ekmel file con accesso da definire
75-VDC GaN technology investigation from a degradation perspective 2017 Trevisan, Francesco; Raffo, Antonio; Bosi, Gianni; Vadala', Valeria; Vannini, Giorgio; Formicone,... Gabriele; Burger, Jeff; Custer, James file con accesso da definire
Evaluation of high-voltage transistor reliability under nonlinear dynamic operation 2017 Bosi, Gianni; Raffo, Antonio; Vadala', Valeria; Trevisan, Francesco; Formicone, Gabriele; Burger,... Jeff; Custer, James; Vannini, Giorgio file con accesso da definire
Waveform engineering: State-of-the-art and future trends (invited paper) 2017 Raffo, Antonio; Vadala', Valeria; Bosi, Gianni; Trevisan, Francesco; Avolio, Gustavo; Vannini, Gi...orgio file con accesso da definire
Thermal characterization of high-power GaN HEMTs up to 65 GHz 2017 Petrocchi, Alessandra; Giovanni, Crupi; Vadala', Valeria; Gustavo, Avolio; Raffo, Antonio; Schreu...rs, Dominique M. M. -P.; Alina, Caddemi; Vannini, Giorgio file con accesso da definire
A New Dynamic-Bias Measurement Setup for Nonlinear Transistor Model Identification 2017 Vadala', Valeria; Raffo, Antonio; Avolio, Gustavo; Marchetti, Mauro; Schreurs, Dominique M. M. P....; Vannini, Giorgio
Extended operation of class-F power amplifiers using input waveform engineering 2017 Cipriani, E.; Colantonio, P.; Giannini, F.; Raffo, A.; Vadala, V.; Bosi, G.; Vannini, G. file con accesso da definire
A procedure for the extraction of a nonlinear microwave GaN FET model 2017 Avolio, Gustavo; Vadala', Valeria; Angelov, Iltcho; Raffo, Antonio; Marchetti, Mauro; Vannini, Gi...orgio; Schreurs, Dominique file con accesso da definire
High-periphery GaN HEMT modeling up to 65 GHz and 200 °C 2018 Crupi, Giovanni; Raffo, Antonio; Vadalà, Valeria; Vannini, Giorgio; Caddemi, Alina
Nonlinear-embedding design methodology oriented to LDMOS power amplifiers 2018 Bosi, Gianni; Raffo, Antonio; Trevisan, Francesco; Vadala, Valeria; Crupi, Giovanni; Vannini, Gio...rgio
A new study on the temperature and bias dependence of the kink effects in S22 and h21 for the GaN HEMT technology 2018 Crupi, Giovanni; Raffo, Antonio; Vadalà, Valeria; Vannini, Giorgio; Caddemi, Alina
Analysis of Gate-Voltage Clipping Behavior on Class-F and Inverse Class-F Amplifiers 2018 Yamamoto, Hiroshi; Kikuchi, Ken; Ui, Norihiko; Inoue, Kazutaka; Vadala, Valeria; Bosi, Gianni; Ra...ffo, Antonio; Vannini, Giorgio
Current-gain in FETs beyond cut-off frequency 2018 Crupi, Giovanni; Raffo, Antonio; Vadalà, Valeria; Vannini, Giorgio; Caddemi, Alina
Technology-Independent Analysis of the Double Current-Gain Peak in Millimeter-Wave FETs 2018 Crupi, Giovanni; Raffo, Antonio; Vadala, Valeria; Avolio, Gustavo; Schreurs, Dominique M. M. -P.;... Vannini, Giorgio; Caddemi, Alina
Comparison of GaN HEMT Technology Processes by Large-Signal Low-Frequency Measurements 2018 Kikuchi, Ken; Yamamoto, Hiroshi; Ui, Norihiko; Inoue, Kazutaka; Vadala', Valeria; Bosi, Gianni; R...affo, Antonio; Vannini, Giorgio
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