CINECA IRIS Institutional Research Information System
IRIS è la soluzione IT che facilita la raccolta e la gestione dei dati relativi alle attività e ai prodotti della ricerca. Fornisce a ricercatori, amministratori e valutatori gli strumenti per monitorare i risultati della ricerca, aumentarne la visibilità e allocare in modo efficace le risorse disponibili.
EnglishIn this paper an automated measurement system for the investigation of degradation phenomena in GaN FETs is presented. The system is able to perform both static and dynamic stress cycles under actual device operation, gathering useful information strictly related to the 'health' of the device. As case study a 75-VDC GaN HEMT was used for a 19-hours stress test, putting in evidence how the device performance slightly degrades during the stress experiment.
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| Titolo: | 75-VDC GaN technology investigation from a degradation perspective |
| Autori: | |
| Data di pubblicazione: | 2017 |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11392/2372597 |
| ISBN: | 9781509058624 |
| Appare nelle tipologie: | 04.2 Contributi in atti di convegno (in Volume) |
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