RAFFO, Antonio

RAFFO, Antonio  

Dipartimento di Ingegneria  

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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
150-nm GaN HEMT Degradation under Realistic Load-Line Operation 2022 Raffo, A.; Vadala, V.; Bosi, G.; Giofre, R.; Vannini, G.
2-mm-gate-periphery GaN high electron mobility transistors on SiC and Si substrates: A comparative analysis from a small-signal standpoint 2021 Jarndal, A.; Alim, M. A.; Raffo, A.; Crupi, G.
200-W GaN PA Design Based on Accurate Multicell Transistor Modeling 2022 Vadala, V.; Raffo, A.; Bosi, G.; Barsegyan, A.; Custer, J.; Formicone, G.; Walker, J.; Vannini, G.
75-VDC GaN technology investigation from a degradation perspective 2017 Trevisan, Francesco; Raffo, Antonio; Bosi, Gianni; Vadala', Valeria; Vannini, Giorgio; Formicone,... Gabriele; Burger, Jeff; Custer, James file con accesso da definire
A CLEAR-CUT UNDERSTANDING OF THE CURRENT-GAIN PEAK IN HEMTs: THEORY AND EXPERIMENTS 2012 G., Crupi; Raffo, Antonio; D. M. M. P., Schreurs; G., Avolio; A., Caddemi; Vannini, Giorgio file con accesso da definire
A Comprehensive and Critical Overview of the Kink Effect in S22 for HEMT Technology 2019 Crupi, G.; Raffo, A.; Marinkovic, Z.; Schreurs, D. M. M. -P.; Caddemi, A. file con accesso da definire
A Comprehensive Overview of the Temperature-Dependent Modeling of the High-Power GaN HEMT Technology Using mm-Wave Scattering Parameter Measurements (Invited Paper) 2023 Crupi, G.; Latino, M.; Gugliandolo, G.; Marinkovic, Z.; Cai, J.; Bosi, G.; Raffo, A.; Fazio, E.; ...Donato, N.
A de-embedding procedure oriented to the determination of FET intrinsic I-V characteristics from high-frequency large-signal measurements 2010 G., Avolio; D., Schreurs; Raffo, Antonio; G., Crupi; Vannini, Giorgio; B., Nauwelaers file con accesso da definire
A distributed approach for millimetre-wave electron device modelling 2006 D., Resca; A., Santarelli; Raffo, Antonio; R., Cignani; Vannini, Giorgio; F., Filicori; A., Cidro...nali file con accesso da definire
A dual-source nonlinear measurement system oriented to the empirical characterization of low-frequency dispersion in microwave electron devices 2011 Raffo, Antonio; Vadala', Valeria; P. A., Traverso; A., Santarelli; Vannini, Giorgio; F., Filicori file con accesso da definire
A GaN power amplifier for 100 VDC bus in GPS L-band 2017 Formicone, G.; Burger, J.; Custer, J.; Veitschegger, W.; Bosi, Gianni; Raffo, Antonio; Vannini, G...iorgio file con accesso da definire
A GaN-SiC MMIC Doherty Power Amplifier For K-band Wireless Communications 2022 Furxhi, S.; Marzi, S. D.; Raffo, A.; Giofre, R.; Colantonio, P. file con accesso da definire
A Load–Pull Characterization Technique Accounting for Harmonic Tuning 2013 Vadala', Valeria; Raffo, Antonio; S., Di Falco; Bosi, Gianni; Nalli, Andrea; Vannini, Giorgio file con accesso da definire
A Low-Cost and Accurate Technique for the Prediction of Load-Pull Contours 2010 Vadala', Valeria; Raffo, Antonio; DI FALCO, Sergio; Vannini, Giorgio file con accesso da definire
A neural network approach for nonlinear modelling of LDMOSFETs 2014 Marinkovic, Zlatica; Crupi, Giovanni; Raffo, Antonio; Bosi, Gianni; Avolio, Gustavo; Markovic, Ve...ra; Caddemi, Alina; Vannini, Giorgio; Schreurs, Dominique M. M. P. file con accesso da definire
A new approach to Class-E power amplifier design 2011 A., Musio; Vadala', Valeria; F., Scappaviva; Raffo, Antonio; DI FALCO, Sergio; Vannini, Giorgio file con accesso da definire
A New Approach to Microwave Power Amplifier Design Based on the Experimental Characterization of the Intrinsic Electron-Device Load-line 2009 Raffo, Antonio; F., Scappaviva; Vannini, Giorgio file con accesso da definire
A New Calibration Technique of Electromagnetic Simulators for Accurate Analyses of Microwave Components on Epitaxial Wafers 2024 Kikuchi, K; Raffo, A; Vadalà, V; Bosi, G; Vannini, G; Yamamoto, H file con accesso da definire
A new description of fast charge-trapping effects in GaN FETs 2015 Bosi, Gianni; Raffo, Antonio; Vadala', Valeria; Vannini, Giorgio file con accesso da definire
A New Dynamic-Bias Measurement Setup for Nonlinear Transistor Model Identification 2017 Vadala', Valeria; Raffo, Antonio; Avolio, Gustavo; Marchetti, Mauro; Schreurs, Dominique M. M. P....; Vannini, Giorgio