SFERA Archivio dei prodotti della Ricerca dell'Università di Ferrara

Sfoglia per Autore  

Opzioni
Mostrati risultati da 21 a 40 di 197
Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Charge trapping and retention in ultra-thin oxide-nitride-oxide structures 1991 Olivo, Piero; Z. A., Weinberg; K. J., Stein; D. S., Wen file con accesso da definire
Influence of Localized Latent Defects on Electrical Breakdown of Thin Insulators 1991 Olivo, Piero; T. N., Nguyen; B., Ricco' file con accesso da definire
Fault Simulation of Unconventional Faults in CMOS Circuits 1991 M., Favalli; Olivo, Piero; M., Damiani; B., Ricco' file con accesso da definire
A Novel Critical Path Heuristic for Fast Fault Grading 1991 M., Favalli; Olivo, Piero; B., Ricco' file con accesso da definire
Evaluation of E2PROM Data Retention by Field Acceleration 1991 M., Lanzoni; R., Menozzi; C., Riva; Olivo, Piero; B., Ricco' file con accesso da definire
On the Determination of the Si-SiO2 Barrier Height from the Fowler-Nordheim Plot 1991 Olivo, Piero; J., Sune'; B., Ricco' file con accesso da definire
Transient simulation of the erase cycle of floating gate EEPROMs 1991 J., Sune'; M., Lanzoni; R., Bez; Olivo, Piero; B., Ricco' file con accesso da definire
Fault Simulation for General FCMOS ICs 1991 M., Favalli; Olivo, Piero; F., Somenzi; B., Ricco' file con accesso da definire
Analysis and Design of Linear Finite State Machines for Signature Analysis Testing 1991 Damiani, M; Olivo, Piero; Ricco, B. file con accesso da definire
Dynamic Effects in the Detection of Bridging Faults in CMOS ICs 1992 M., Favalli; Olivo, Piero; B., Ricco' file con accesso da definire
Quantum-Mechanical Modeling of Accumulation Layers in MOS Structures 1992 J., Sune'; Olivo, Piero; B., Ricco' file con accesso da definire
A Probabilistic Fault Model for “Analog” Faults in Digital CMOS Circuits 1992 M., Favalli; Olivo, Piero; B., Ricco' file con accesso da definire
Testability Measures in Pseudorandom Testing 1992 S., Ercolani; M., Favalli; M., Damiani; Olivo, Piero; B., Ricco' file con accesso da definire
Advanced Electrical-Level Modeling of EEPROM Cells 1993 M., Lanzoni; J., Sune'; Olivo, Piero; B., Ricco' file con accesso da definire
Temperature Dependence of Fowler-Nordheim Injection from Accumulated n-type Silicon into Silicon Dioxide 1993 J., Sune'; M., Lanzoni; Olivo, Piero file con accesso da definire
An Experimental Study of Testing Techniques for Bridging Faults in CMOS ICs 1993 M., Lanzoni; M., Favalli; M., Ambanelli; Olivo, Piero; B., Ricco' file con accesso da definire
Analysis of Resistive Bridging Fault Detection in BiCMOS Digital ICs 1993 M., Favalli; M., Dalpasso; Olivo, Piero; B., Ricco' file con accesso da definire
Fault Simulation of Parametric Bridging Faults in CMOS ICs 1993 Dalpasso, M.; Favalli, M.; Olivo, Piero; Ricco, B. file con accesso da definire
Quantum effects in accumulated MOS thin dielectric structures 1994 Olivo, Piero; J., Sune file con accesso da definire
Realistic Testability Estimates for CMOS IC's 1994 M., Dalpasso; M., Favalli; Olivo, Piero; AND J. P., Teixeira file con accesso da definire
Mostrati risultati da 21 a 40 di 197
Legenda icone

  •  file ad accesso aperto
  •  file disponibili solo agli amministratori
  •  file sotto embargo
  •  nessun file disponibile