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Evaluation of high-voltage transistor reliability under nonlinear dynamic operation
file con accesso da definire2017 Bosi, Gianni; Raffo, Antonio; Vadala', Valeria; Trevisan, Francesco; Formicone, Gabriele; Burger, Jeff; Custer, James; Vannini, Giorgio
Evaluation of Microwave Transistor Degradation Using Low-Frequency Time-Domain Measurements
2021 Bosi, G.; Vadala', V.; Giofre, R.; Raffo, A.; Vannini, G.
Experimental evaluation of dynamic non-linearities of a S/H-ADC device
file con accesso da definire1997 D., Mirri; G., Pasini; F., Filicori; G., Iuculano; Vannini, Giorgio; R., Rossini
Experimental Investigation of LF dispersion and IMD asymmetry within GaN based HEMT technology
file con accesso da definire2010 G., Avolio; Raffo, Antonio; D., Schreurs; Vadala', Valeria; DI FALCO, Sergio; W., Deraedt; B., Nauwelaers; Vannini, Giorgio
Experimental Investigation on Class-E and Class-F-1 Operation under Square-Waveform Excitation
file con accesso da definire2023 Bosi, G.; Raffo, A.; Giofre, R.; Vadala, V.; Crupi, G.; Colantonio, P.; Vannini, G.
Experimental Validation of Class F Waveform Engineering in Class C Biasing Condition
file con accesso da definire2023 Manni, F.; Giofre, R.; Giannini, F.; Vadala, V.; Bosi, G.; Raffo, A.; Vannini, G.; Colantonio, P.
Extended operation of class-F power amplifiers using input waveform engineering
file con accesso da definire2017 Cipriani, E.; Colantonio, P.; Giannini, F.; Raffo, A.; Vadala, V.; Bosi, G.; Vannini, G.
Extraction of accurate GaN HEMT model for high-efficiency power amplifier design
file con accesso da definire2015 Vadala', Valeria; Raffo, Antonio; Avolio, Gustavo; Marchetti, Mauro; Schreurs, Dominique M. M. P; Vannini, Giorgio
Extraction of an Extrinsic Parasitic Network for Accurate mm-Wave FET Scalable Modeling on the Basis of Full-Wave EM Simulation
file con accesso da definire2008 D., Resca; Raffo, Antonio; A., Santarelli; Vannini, Giorgio; F., Filicori
Extremely Low-Frequency Measurements Using an Active Bias Tee
file con accesso da definire2013 Nalli, Andrea; Raffo, Antonio; Gustavo, Avolio; Vadala', Valeria; Bosi, Gianni; Dominique M. M. P., Schreurs; Vannini, Giorgio
| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| Evaluation of high-voltage transistor reliability under nonlinear dynamic operation | 2017 | Bosi, Gianni; Raffo, Antonio; Vadala', Valeria; Trevisan, Francesco; Formicone, Gabriele; Burger,... Jeff; Custer, James; Vannini, Giorgio | file con accesso da definire |
| Evaluation of Microwave Transistor Degradation Using Low-Frequency Time-Domain Measurements | 2021 | Bosi, G.; Vadala', V.; Giofre, R.; Raffo, A.; Vannini, G. | |
| Experimental evaluation of dynamic non-linearities of a S/H-ADC device | 1997 | D., Mirri; G., Pasini; F., Filicori; G., Iuculano; Vannini, Giorgio; R., Rossini | file con accesso da definire |
| Experimental Investigation of LF dispersion and IMD asymmetry within GaN based HEMT technology | 2010 | G., Avolio; Raffo, Antonio; D., Schreurs; Vadala', Valeria; DI FALCO, Sergio; W., Deraedt; B., Na...uwelaers; Vannini, Giorgio | file con accesso da definire |
| Experimental Investigation on Class-E and Class-F-1 Operation under Square-Waveform Excitation | 2023 | Bosi, G.; Raffo, A.; Giofre, R.; Vadala, V.; Crupi, G.; Colantonio, P.; Vannini, G. | file con accesso da definire |
| Experimental Validation of Class F Waveform Engineering in Class C Biasing Condition | 2023 | Manni, F.; Giofre, R.; Giannini, F.; Vadala, V.; Bosi, G.; Raffo, A.; Vannini, G.; Colantonio, P. | file con accesso da definire |
| Extended operation of class-F power amplifiers using input waveform engineering | 2017 | Cipriani, E.; Colantonio, P.; Giannini, F.; Raffo, A.; Vadala, V.; Bosi, G.; Vannini, G. | file con accesso da definire |
| Extraction of accurate GaN HEMT model for high-efficiency power amplifier design | 2015 | Vadala', Valeria; Raffo, Antonio; Avolio, Gustavo; Marchetti, Mauro; Schreurs, Dominique M. M. P;... Vannini, Giorgio | file con accesso da definire |
| Extraction of an Extrinsic Parasitic Network for Accurate mm-Wave FET Scalable Modeling on the Basis of Full-Wave EM Simulation | 2008 | D., Resca; Raffo, Antonio; A., Santarelli; Vannini, Giorgio; F., Filicori | file con accesso da definire |
| Extremely Low-Frequency Measurements Using an Active Bias Tee | 2013 | Nalli, Andrea; Raffo, Antonio; Gustavo, Avolio; Vadala', Valeria; Bosi, Gianni; Dominique M. M. P...., Schreurs; Vannini, Giorgio | file con accesso da definire |
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