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EnglishHigh quality test vectors for bridging faults in the presence of IC's parameters variations / M. FAVALLI; DALPASSO M. - ELETTRONICO. - (2007), pp. 448-457. ((Intervento presentato al convegno IEEE Defect and Fault Tolerant Symposium in VLSI Systems tenutosi a Roma nel 26 - 28 Settembre 2007.
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http://hdl.handle.net/11392/472393| Titolo: | High quality test vectors for bridging faults in the presence of IC's parameters variations |
| Autori interni: | FAVALLI, Michele |
| Data di pubblicazione: | 2007 |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11392/472393 |
| Appare nelle tipologie: | 04.2 Contributi in atti di convegno (in Volume) |
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