CINECA IRIS Institutional Research Information System
IRIS è la soluzione IT che facilita la raccolta e la gestione dei dati relativi alle attività e ai prodotti della ricerca. Fornisce a ricercatori, amministratori e valutatori gli strumenti per monitorare i risultati della ricerca, aumentarne la visibilità e allocare in modo efficace le risorse disponibili.
EnglishWe present an analysis of the propagation of measurement uncertainty in microwave transistor nonlinear models. As a case study, we focus on residual calibration uncertainty and its effect on modeled nonlinear capacitances extracted from small-signal microwave measurements. We evaluate the uncertainty by means of the polynomial chaos expansion (PCE) method and compare the results with the NIST Microwave Uncertainty Framework, which enables both sensitivity and Monte Carlo (MC) analyses for uncertainty quantification in microwave measurements. We demonstrate that, for the considered application, PCE provides results in agreement with classical MC simulations but with a significant reduction of the computational effort.
Scheda prodotto non validato
Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo
| Titolo: | Measurement Uncertainty Propagation in Transistor Model Parameters via Polynomial Chaos Expansion |
| Autori: | |
| Data di pubblicazione: | 2017 |
| Rivista: | |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11392/2371772 |
| Appare nelle tipologie: | 03.1 Articolo su rivista |
File in questo prodotto:
Copyright © 2020