CRUPI, Giovanni
CRUPI, Giovanni
Dipartimento di Ingegneria (attivo dal 01/01/1997 al 30/09/2012)
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An Overview of the Impact of the Temperature on the Small- and Large-Signal Performance of 0.15-μm Microwave GaN HEMTs
2024 Crupi, Giovanni; Vadalà, Valeria; Bosi, Gianni; Gugliandolo, Giovanni; Bao, Xiue; Giofrè, Rocco; Raffo, Antonio; Colantonio, Paolo; Donato, Nicola; Vannini, Giorgio
Characterization Procedure for Effective Evaluation of III-V Compound Semiconductor Technology
file con accesso da definire2025 Choupan, N.; Vadala, V.; Bosi, G.; Ramella, C.; Grassi, M.; Crupi, G.; Giofre, R.; Raffo, A.; Vannini, G.
| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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| An Overview of the Impact of the Temperature on the Small- and Large-Signal Performance of 0.15-μm Microwave GaN HEMTs | 2024 | Crupi, Giovanni; Vadalà, Valeria; Bosi, Gianni; Gugliandolo, Giovanni; Bao, Xiue; Giofrè, Rocco; ...Raffo, Antonio; Colantonio, Paolo; Donato, Nicola; Vannini, Giorgio | |
| Characterization Procedure for Effective Evaluation of III-V Compound Semiconductor Technology | 2025 | Choupan, N.; Vadala, V.; Bosi, G.; Ramella, C.; Grassi, M.; Crupi, G.; Giofre, R.; Raffo, A.; Van...nini, G. | file con accesso da definire |