MELE, Santino
 Distribuzione geografica
Continente #
NA - Nord America 181
EU - Europa 165
AS - Asia 22
Totale 368
Nazione #
US - Stati Uniti d'America 181
PL - Polonia 136
CN - Cina 14
IT - Italia 9
UA - Ucraina 7
GB - Regno Unito 5
BE - Belgio 3
DE - Germania 3
SG - Singapore 3
TR - Turchia 2
VN - Vietnam 2
FI - Finlandia 1
FR - Francia 1
ID - Indonesia 1
Totale 368
Città #
Warsaw 136
Fairfield 38
Woodbridge 31
Ann Arbor 17
Seattle 16
Ashburn 15
Wilmington 12
Cambridge 11
Houston 10
Jacksonville 8
Cagliari 4
Chandler 4
Brussels 3
Nanjing 3
Beijing 2
Changsha 2
Dong Ket 2
Izmir 2
Jinan 2
Princeton 2
Shanghai 2
Addison 1
Auburn Hills 1
Boardman 1
Falls Church 1
Hebei 1
Jakarta 1
Milan 1
New York 1
Phoenix 1
San Diego 1
Shenyang 1
Singapore 1
Zhengzhou 1
Totale 335
Nome #
A SAT based test generation method for delay fault testing of macro based circuits 208
A SAT Based Test Generation Method for Delay Fault Testing of Macro Based Circuits 162
Totale 370
Categoria #
all - tutte 932
article - articoli 0
book - libri 0
conference - conferenze 0
curatela - curatele 0
other - altro 0
patent - brevetti 0
selected - selezionate 0
volume - volumi 0
Totale 932


Totale Lug Ago Sett Ott Nov Dic Gen Feb Mar Apr Mag Giu
2019/2020109 15 8 6 14 10 9 9 10 9 8 7 4
2020/2021105 7 9 44 6 5 7 5 7 2 9 1 3
2021/202224 3 5 0 1 0 2 2 1 0 4 1 5
2022/202313 3 0 0 1 4 1 2 0 1 0 1 0
2023/202413 0 1 1 0 1 1 0 4 0 2 0 3
2024/20252 2 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0
Totale 370