Measurement of the absolute branching fraction of D-0 -> K-pi(+)

Aubert, B.; Bona, M.; Boutigny, D.; Karyotakis, Y.; Lees, J. P.; Poireau, V.; Prudent, X.; Tisserand, V.; Zghiche, A.; Tico, J. G.; Grauges, E.; Lopez, L.; Palano, A.; Eigen, G.; Ofte, I.; Stugu, B.; Sun, L.; Abrams, G. S.; Battaglia, M.; Brown, D. N.; Button Shafer, J.; Cahn, R. N.; Groysman, Y.; Jacobsen, R. G.; Kadyk, J. A.; Kerth, L. T.; Kolomensky, Y. G.; Kukartsev, G.; Pegna, D. L.; Lynch, G.; Mir, L. M.; Orimoto, T. J.; Pripstein, M.; Roe, N. A.; Ronan, M. T.; Tackmann, K.; Wenzel, W. A.; Sanchez, P. A.; Hawkes, C. M.; Watson, A. T.; Held, T.; Koch, H.; Lewandowski, B.; Pelizaeus, M.; Schroeder, T.; Steinke, M.; Cottingham, W. N.; Walker, D.; Asgeirsson, D. J.; Cuhadar Donszelmann, T.; Fulsom, B. G.; Hearty, C.; Knecht, N. S.; Mattison, T. S.; McKenna, J. A.; Khan, A.; Saleem, M.; Teodorescu, L.; Blinov, V. E.; Bukin, A. D.; Druzhinin, V. P.; Golubev, V. B.; Onuchin, A. P.; Serednyakov, S. I.; Skovpen, Y. I.; Solodov, E. P.; Todyshev, K. Y.; Bondioli, M.; Curry, S.; Eschrich, I.; Kirkby, D.; Lankford, A. J.; Lund, P.; Mandelkern, M.; Martin, E. C.; Stoker, D. P.; Abachi, S.; Buchanan, C.; Foulkes, S. D.; Gary, J. W.; Liu, F.; Long, O.; Shen, B. C.; Zhang, L.; Paar, H. P.; Rahatlou, S.; Sharma, V.; Berryhill, J. W.; Campagnari, C.; Cunha, A.; Dahmes, B.; Hong, T. M.; Kovalskyi, D.; Richman, J. D.; Beck, T. W.; Eisner, A. M.; Flacco, C. J.; Heusch, C. A.; Kroseberg, J.; Lockman, W. S.; Schalk, T.; Schumm, B. A.; Seiden, A.; Williams, D. C.; Wilson, M. G.; Winstrom, L. O.; Chen, E.; Cheng, C. H.; Dvoretskii, A.; Fang, F.; Hitlin, D. G.; Narsky, I.; Piatenko, T.; Porter, F. C.; Mancinelli, G.; Meadows, B. T.; Mishra, K.; Sokoloff, M. D.; Blanc, F.; Bloom, P. C.; Chen, S.; Ford, W. T.; Hirschauer, J. F.; Kreisel, A.; Nagel, M.; Nauenberg, U.; Olivas, A.; Smith, J. G.; Ulmer, K. A.; Wagner, S. R.; Zhang, J.; Gabareen, A. M.; Soffer, A.; Toki, W. H.; Wilson, R. J.; Winklmeier, F.; Zeng, Q.; Altenburg, D. D.; Feltresi, E.; Hauke, A.; Jasper, H.; Merkel, J.; Petzold, A.; Spaan, B.; Wacker, K.; Brandt, T.; Klose, V.; Lacker, H. M.; Mader, W. F.; Nogowski, R.; Schubert, J.; Schubert, K. R.; Schwierz, R.; Sundermann, J. E.; Volk, A.; Bernard, D.; Bonneaud, G. R.; Latour, E.; Lombardo, V.; Thiebaux, C.; Verderi, M.; Clark, P. J.; Gradl, W.; Muheim, F.; Playfer, S.; Robertson, A. I.; Xie, Y.; Andreotti, Mirco; Bettoni, D.; Bozzi, C.; Calabrese, Roberto; Cecchi, Annalisa; Cibinetto, Gianluigi; Franchini, Paolo; Luppi, Eleonora; Negrini, Matteo; Petrella, Antonio; Piemontese, L.; Prencipe, Elisabetta; Santoro, Valentina; Anulli, F.; Baldini Ferroli, R.; Calcaterra, A.; de Sangro, R.; Finocchiaro, G.; Pacetti, S.; Patteri, P.; Peruzzi, I. M.; Piccolo, M.; Rama, M.; Zallo, A.; Buzzo, A.; Contri, R.; Lo Vetere, M.; Macri, M. M.; Monge, M. R.; Passaggio, S.; Patrignani, C.; Robutti, E.; Santroni, A.; Tosi, S.; Chaisanguanthum, K. S.; Morii, M.; Wu, J.; Dubitzky, R. S.; Marks, J.; Schenk, S.; Uwer, U.; Bard, D. J.; Dauncey, P. D.; Flack, R. L.; Nash, J. A.; Nikolich, M. B.; Vazquez, W. P.; Behera, P. K.; Chai, X.; Charles, M. J.; Mallik, U.; Meyer, N. T.; Ziegler, V.; Cochran, J.; Crawley, H. B.; Dong, L.; Eyges, V.; Meyer, W. T.; Prell, S.; Rosenberg, E. I.; Rubin, A. E.; Gritsan, A. V.; Guo, Z. J.; Lae, C. K.; Denig, A. G.; Fritsch, M.; Schott, G.; Arnaud, N.; Bequilleux, J.; Davier, M.; Grosdidier, G.; Hoecker, A.; Lepeltier, V.; Le Diberder, F.; Lutz, A. M.; Pruvot, S.; Rodier, S.; Roudeau, P.; Schune, M. H.; Serrano, J.; Sordini, V.; Stocchi, A.; Wang, W. F.; Wormser, G.; Lange, D. J.; Wright, D. M.; Chavez, C. A.; Forster, I. J.; Fry, J. R.; Gabathuler, E.; Gamet, R.; Hutchcroft, D. E.; Payne, D. J.; Schofield, K. C.; Touramanis, C.; Bevan, A. J.; George, K. A.; Di Lodovico, F.; Menges, W.; Sacco, R.; Cowan, G.; Flaecher, H. U.; Hopkins, D. A.; Jackson, P. S.; McMahon, T. R.; Salvatore, F.; Wren, A. C.; Brown, D. N.; Davis, C. L.; Allison, J.; Barlow, N. R.; Barlow, R. J.; Chia, Y. M.; Edgar, C. L.; Lafferty, G. D.; West, T. J.; J. I., Yi; Anderson, J.; Chen, C.; Jawahery, A.; Roberts, D. A.; Simi, G.; Tuggle, J. M.; Blaylock, G.; Dallapiccola, C.; Hertzbach, S. S.; Li, X.; Moore, T. B.; Salvati, E.; Saremi, S.; Cowan, R.; Fisher, P. H.; Sciolla, G.; Sekula, S. J.; Spitznagel, M.; Taylor, F.; Yamamoto, R. K.; Mclachlin, S. E.; Patel, P. M.; Robertson, S. H.; Lazzaro, A.; Palombo, F.; Bauer, J. M.; Cremaldi, L.; Eschenburg, V.; Godang, R.; Kroeger, R.; Sanders, D. A.; Summers, D. J.; Zhao, H. W.; Brunet, S.; Coto, D.; Simard, M.; Taras, P.; Viaud, F. B.; Nicholson, H.; De Nardo, G.; Fabozzi, F.; Lista, L.; Monorchio, D.; Sciacca, C.; Baak, M. A.; Raven, G.; Snoek, H. L.; Jessop, C. P.; LoSecco, J. M.; Benelli, G.; Corwin, L. A.; Gan, K. K.; Honscheid, K.; Hufnagel, D.; Kagan, H.; Kass, R.; Morris, J. P.; Rahimi, A. M.; Regensburger, J. J.; Ter Antonyan, R.; Wong, Q. K.; Blount, N. L.; Brau, J.; Frey, R.; Igonkina, O.; Kolb, J. A.; M. L. R.,; Sinev, N. B.; Strom, D.; Strube, J.; Torrence, E.; Gagliardi, N.; Gaz, A.; Margoni, M.; Morandin, M.; Pompili, A.; Posocco, M.; Rotondo, M.; Simonetto, F.; Stroili, R.; Voci, C.; Ben Haim, E.; Briand, H.; Chauveau, J.; David, P.; Del Buono, L.; De La, C.; Hamon, O.; Hartfiel, B. L.; Leruste, P.; Malcles, J.; Ocariz, J.; Perez, A.; Gladney, L.; Biasini, M.; Covarelli, R.; Manoni, E.; Angelini, C.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Calderini, G.; Carpinelli, M.; Cenci, R.; Cervelli, A.; Forti, F.; Giorgi, M. A.; Lusiani, A.; Marchiori, G.; Mazur, M. A.; Morganti, M.; Neri, N.; Paoloni, E.; Rizzo, G.; Walsh, J. J.; Haire, M.; Biesiada, J.; Elmer, P.; Lau, Y. P.; Lu, C.; Olsen, J.; A. J. S.,; Telnov, A. V.; Baracchini, E.; Bellini, F.; Cavoto, G.; D'Orazio, A.; del Re, D.; Di Marco, E.; Faccini, R.; Ferrarotto, F.; Ferroni, F.; Gaspero, M.; Jackson, P. D.; Gioi, L. L.; Mazzoni, M. A.; Morganti, S.; Piredda, G.; Polci, F.; Renga, F.; Voena, C.; Ebert, M.; Schroder, H.; Waldi, R.; Adye, T.; Castelli, G.; Franek, B.; Olaiya, E. O.; Ricciardi, S.; Roethel, W.; Wilson, F. F.; Aleksan, R.; Emery, S.; Escalier, M.; Gaidot, A.; Ganzhur, S. F.; G. H., De; Kozanecki, W.; Legendre, M.; Vasseur, G.; Yeche, C.; Zito, M.; Chen, X. R.; Liu, H.; Park, W.; Purohit, M. V.; Wilson, J. R.; Allen, M. T.; Aston, D.; Bartoldus, R.; Bechtle, P.; Berger, N.; Claus, R.; Coleman, J. P.; Convery, M. R.; Dingfelder, J. C.; Dorfan, J.; Dubois Felsmann, G. P.; Dujmic, D.; Dunwoodie, W.; Field, R. C.; Glanzman, T.; Gowdy, S. J.; Graham, M. T.; Grenier, P.; Hast, C.; Hryn'ova, T.; Innes, W. R.; Kelsey, M. H.; Kim, H.; Kim, P.; D. W. G.,; Li, S.; Luitz, S.; Luth, V.; Lynch, H. L.; MacFarlane, D. B.; Marsiske, H.; Messner, R.; Muller, D. R.; O'Grady, C. P.; Perazzo, A.; Perl, M.; Pulliam, T.; Ratcliff, B. N.; Roodman, A.; Salnikov, A. A.; Schindler, R. H.; Schwiening, J.; Snyder, A.; Stelzer, J.; Su, D.; Sullivan, M. K.; Suzuki, K.; Swain, S. K.; Thompson, J. M.; Va'vra, J.; van Bakel, N.; Wagner, A. P.; Weaver, M.; Wisniewski, W. J.; Wittgen, M.; Wright, D. H.; Yarritu, A. K.; Yi, K.; Young, C. C.; Burchat, P. R.; Edwards, A. J.; Majewski, S. A.; Petersen, B. A.; Wilden, L.; Ahmed, S.; Alam, M. S.; Bula, R.; Ernst, J. A.; Jain, V.; Pan, B.; Saeed, M. A.; Wappler, F. R.; Zain, S. B.; Bugg, W.; Krishnamurthy, M.; Spanier, S. M.; Eckmann, R.; Ritchie, J. L.; Ruland, A. M.; Schilling, C. J.; Schwitters, R. F.; Izen, J. M.; Lou, X. C.; Ye, S.; Bianchi, F.; Gallo, F.; Gamba, D.; Pelliccioni, M.; Bomben, M.; Bosisio, L.; Cartaro, C.; Cossutti, F.; Della Ricca, G.; Lanceri, L.; Vitale, L.; Azzolini, V.; Lopez March, N.; Martinez Vidal, F.; Milanes, D. A.; Oyanguren, A.; Albert, J.; Banerjee, S.; Bhuyan, B.; Hamano, K.; Kowalewski, R.; Nugent, I. M.; Roney, J. M.; Sobie, R. J.; Back, J. J.; Harrison, P. F.; Latham, T. E.; Mohanty, G. B.; Pappagallo, M.; Band, H. R.; Chen, X.; Dasu, S.; Flood, K. T.; Hollar, J. J.; Kutter, P. E.; Pan, Y.; Pierini, M.; Prepost, R.; S. L., Wu; Yu, Z.; Neal, H.

doi:10.1103/PhysRevLett.100.051802

We measure the absolute branching fraction for D-0 --> K-pi(+) using partial reconstruction of (B) over bar (0) --> D(*+)Xl(-)(nu) over bar (l) decays, in which only the charged lepton and the pion from the decay D*+ --> D-0 pi(+) are used. Based on a data sample of 230x10(6) (B) over bar pairs collected at the Y(4S) resonance with the BABAR detector at the PEP-II asymmetric-energy B factory at SLAC, we obtain B(D-0 --> K-pi(+))=(4.007 +/- 0.037 +/- 0.072)%, where the first uncertainty is statistical and the second is systematic.

Scheda prodotto non validato

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo

Titolo:	Measurement of the absolute branching fraction of D-0 -> K-pi(+)
Autori:	B. Aubert M. Bona D. Boutigny Y. Karyotakis J. P. Lees V. Poireau X. Prudent V. Tisserand A. Zghiche J. G. Tico E. Grauges L. Lopez A. Palano G. Eigen I. Ofte B. Stugu L. Sun G. S. Abrams M. Battaglia D. N. Brown J. Button Shafer R. N. Cahn Y. Groysman R. G. Jacobsen J. A. Kadyk L. T. Kerth Y. G. Kolomensky G. Kukartsev D. L. Pegna G. Lynch L. M. Mir T. J. Orimoto M. Pripstein N. A. Roe M. T. Ronan K. Tackmann W. A. Wenzel P. A. Sanchez C. M. Hawkes A. T. Watson T. Held H. Koch B. Lewandowski M. Pelizaeus T. Schroeder M. Steinke W. N. Cottingham D. Walker D. J. Asgeirsson T. Cuhadar Donszelmann B. G. Fulsom C. Hearty N. S. Knecht T. S. Mattison J. A. McKenna A. Khan M. Saleem L. Teodorescu V. E. Blinov A. D. Bukin V. P. Druzhinin V. B. Golubev A. P. Onuchin S. I. Serednyakov Y. I. Skovpen E. P. Solodov K. Y. Todyshev M. Bondioli S. Curry I. Eschrich D. Kirkby A. J. Lankford P. Lund M. Mandelkern E. C. Martin D. P. Stoker S. Abachi C. Buchanan S. D. Foulkes J. W. Gary F. Liu O. Long B. C. Shen L. Zhang H. P. Paar S. Rahatlou V. Sharma J. W. Berryhill C. Campagnari A. Cunha B. Dahmes T. M. Hong D. Kovalskyi J. D. Richman T. W. Beck A. M. Eisner C. J. Flacco C. A. Heusch J. Kroseberg W. S. Lockman T. Schalk B. A. Schumm A. Seiden D. C. Williams M. G. Wilson L. O. Winstrom E. Chen C. H. Cheng A. Dvoretskii F. Fang D. G. Hitlin I. Narsky T. Piatenko F. C. Porter G. Mancinelli B. T. Meadows K. Mishra M. D. Sokoloff F. Blanc P. C. Bloom S. Chen W. T. Ford J. F. Hirschauer A. Kreisel M. Nagel U. Nauenberg A. Olivas J. G. Smith K. A. Ulmer S. R. Wagner J. Zhang A. M. Gabareen A. Soffer W. H. Toki R. J. Wilson F. Winklmeier Q. Zeng D. D. Altenburg E. Feltresi A. Hauke H. Jasper J. Merkel A. Petzold B. Spaan K. Wacker T. Brandt V. Klose H. M. Lacker W. F. Mader R. Nogowski J. Schubert K. R. Schubert R. Schwierz J. E. Sundermann A. Volk D. Bernard G. R. Bonneaud E. Latour V. Lombardo C. Thiebaux M. Verderi P. J. Clark W. Gradl F. Muheim S. Playfer A. I. Robertson Y. Xie ANDREOTTI, Mirco D. Bettoni C. Bozzi CALABRESE, Roberto CECCHI, Annalisa CIBINETTO, Gianluigi FRANCHINI, Paolo LUPPI, Eleonora NEGRINI, Matteo PETRELLA, Antonio L. Piemontese PRENCIPE, Elisabetta SANTORO, Valentina F. Anulli R. Baldini Ferroli A. Calcaterra R. de Sangro G. Finocchiaro S. Pacetti P. Patteri I. M. Peruzzi M. Piccolo M. Rama A. Zallo A. Buzzo R. Contri M. Lo Vetere M. M. Macri M. R. Monge S. Passaggio C. Patrignani E. Robutti A. Santroni S. Tosi K. S. Chaisanguanthum M. Morii J. Wu R. S. Dubitzky J. Marks S. Schenk U. Uwer D. J. Bard P. D. Dauncey R. L. Flack J. A. Nash M. B. Nikolich W. P. Vazquez P. K. Behera X. Chai M. J. Charles U. Mallik N. T. Meyer V. Ziegler J. Cochran H. B. Crawley L. Dong V. Eyges W. T. Meyer S. Prell E. I. Rosenberg A. E. Rubin A. V. Gritsan Z. J. Guo C. K. Lae A. G. Denig M. Fritsch G. Schott N. Arnaud J. Bequilleux M. Davier G. Grosdidier A. Hoecker V. Lepeltier F. Le Diberder A. M. Lutz S. Pruvot S. Rodier P. Roudeau M. H. Schune J. Serrano V. Sordini A. Stocchi W. F. Wang G. Wormser D. J. Lange D. M. Wright C. A. Chavez I. J. Forster J. R. Fry E. Gabathuler R. Gamet D. E. Hutchcroft D. J. Payne K. C. Schofield C. Touramanis A. J. Bevan K. A. George F. Di Lodovico W. Menges R. Sacco G. Cowan H. U. Flaecher D. A. Hopkins P. S. Jackson T. R. McMahon F. Salvatore A. C. Wren D. N. Brown C. L. Davis J. Allison N. R. Barlow R. J. Barlow Y. M. Chia C. L. Edgar G. D. Lafferty T. J. West J. I. Yi J. Anderson C. Chen A. Jawahery D. A. Roberts G. Simi J. M. Tuggle G. Blaylock C. Dallapiccola S. S. Hertzbach X. Li T. B. Moore E. Salvati S. Saremi R. Cowan P. H. Fisher G. Sciolla S. J. Sekula M. Spitznagel F. Taylor R. K. Yamamoto S. E. Mclachlin P. M. Patel S. H. Robertson A. Lazzaro F. Palombo J. M. Bauer L. Cremaldi V. Eschenburg R. Godang R. Kroeger D. A. Sanders D. J. Summers H. W. Zhao S. Brunet D. Coto M. Simard P. Taras F. B. Viaud H. Nicholson G. De Nardo F. Fabozzi L. Lista D. Monorchio C. Sciacca M. A. Baak G. Raven H. L. Snoek C. P. Jessop J. M. LoSecco G. Benelli L. A. Corwin K. K. Gan K. Honscheid D. Hufnagel H. Kagan R. Kass J. P. Morris A. M. Rahimi J. J. Regensburger R. Ter Antonyan Q. K. Wong N. L. Blount J. Brau R. Frey O. Igonkina J. A. Kolb M. L. R. N. B. Sinev D. Strom J. Strube E. Torrence N. Gagliardi A. Gaz M. Margoni M. Morandin A. Pompili M. Posocco M. Rotondo F. Simonetto R. Stroili C. Voci E. Ben Haim H. Briand J. Chauveau P. David L. Del Buono C. de la O. Hamon B. L. Hartfiel P. Leruste J. Malcles J. Ocariz A. Perez L. Gladney M. Biasini R. Covarelli E. Manoni C. Angelini G. Batignani S. Bettarini G. Calderini M. Carpinelli R. Cenci A. Cervelli F. Forti M. A. Giorgi A. Lusiani G. Marchiori M. A. Mazur M. Morganti N. Neri E. Paoloni G. Rizzo J. J. Walsh M. Haire J. Biesiada P. Elmer Y. P. Lau C. Lu J. Olsen A. J. S. A. V. Telnov E. Baracchini F. Bellini G. Cavoto A. D'Orazio D. del Re E. Di Marco R. Faccini F. Ferrarotto F. Ferroni M. Gaspero P. D. Jackson L. L. Gioi M. A. Mazzoni S. Morganti G. Piredda F. Polci F. Renga C. Voena M. Ebert H. Schroder R. Waldi T. Adye G. Castelli B. Franek E. O. Olaiya S. Ricciardi W. Roethel F. F. Wilson R. Aleksan S. Emery M. Escalier A. Gaidot S. F. Ganzhur G. H. de W. Kozanecki M. Legendre G. Vasseur C. Yeche M. Zito X. R. Chen H. Liu W. Park M. V. Purohit J. R. Wilson M. T. Allen D. Aston R. Bartoldus P. Bechtle N. Berger R. Claus J. P. Coleman M. R. Convery J. C. Dingfelder J. Dorfan G. P. Dubois Felsmann D. Dujmic W. Dunwoodie R. C. Field T. Glanzman S. J. Gowdy M. T. Graham P. Grenier C. Hast T. Hryn'ova W. R. Innes M. H. Kelsey H. Kim P. Kim D. W. G. S. Li S. Luitz V. Luth H. L. Lynch D. B. MacFarlane H. Marsiske R. Messner D. R. Muller C. P. O'Grady A. Perazzo M. Perl T. Pulliam B. N. Ratcliff A. Roodman A. A. Salnikov R. H. Schindler J. Schwiening A. Snyder J. Stelzer D. Su M. K. Sullivan K. Suzuki S. K. Swain J. M. Thompson J. Va'vra N. van Bakel A. P. Wagner M. Weaver W. J. Wisniewski M. Wittgen D. H. Wright A. K. Yarritu K. Yi C. C. Young P. R. Burchat A. J. Edwards S. A. Majewski B. A. Petersen L. Wilden S. Ahmed M. S. Alam R. Bula J. A. Ernst V. Jain B. Pan M. A. Saeed F. R. Wappler S. B. Zain W. Bugg M. Krishnamurthy S. M. Spanier R. Eckmann J. L. Ritchie A. M. Ruland C. J. Schilling R. F. Schwitters J. M. Izen X. C. Lou S. Ye F. Bianchi F. Gallo D. Gamba M. Pelliccioni M. Bomben L. Bosisio C. Cartaro F. Cossutti G. Della Ricca L. Lanceri L. Vitale V. Azzolini N. Lopez March F. Martinez Vidal D. A. Milanes A. Oyanguren J. Albert S. Banerjee B. Bhuyan K. Hamano R. Kowalewski I. M. Nugent J. M. Roney R. J. Sobie J. J. Back P. F. Harrison T. E. Latham G. B. Mohanty M. Pappagallo H. R. Band X. Chen S. Dasu K. T. Flood J. J. Hollar P. E. Kutter Y. Pan M. Pierini R. Prepost S. L. Wu Z. Yu H. Neal mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Data di pubblicazione:	2008
Rivista:	PHYSICAL REVIEW LETTERS
Abstract:	We measure the absolute branching fraction for D-0 --> K-pi(+) using partial reconstruction of (B) over bar (0) --> D(+)Xl(-)(nu) over bar (l) decays, in which only the charged lepton and the pion from the decay D+ --> D-0 pi(+) are used. Based on a data sample of 230x10(6) (B) over bar pairs collected at the Y(4S) resonance with the BABAR detector at the PEP-II asymmetric-energy B factory at SLAC, we obtain B(D-0 --> K-pi(+))=(4.007 +/- 0.037 +/- 0.072)%, where the first uncertainty is statistical and the second is systematic.
Handle:	http://hdl.handle.net/11392/533303
Appare nelle tipologie:	03.1 Articolo su rivista

File in questo prodotto:

Non ci sono file associati a questo prodotto.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
http://hdl.handle.net/11392/533303

Citazioni

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

CINECA IRIS Institutional Research Information System

Scheda prodotto non validato

File in questo prodotto: