Measurement of the absolute branching fraction of D-0 -> K-pi(+)

Aubert, B.; Bona, M.; Boutigny, D.; Karyotakis, Y.; Lees, J. P.; Poireau, V.; Prudent, X.; Tisserand, V.; Zghiche, A.; Tico, J. G.; Grauges, E.; Lopez, L.; Palano, A.; Eigen, G.; Ofte, I.; Stugu, B.; Sun, L.; Abrams, G. S.; Battaglia, M.; Brown, D. N.; Button Shafer, J.; Cahn, R. N.; Groysman, Y.; Jacobsen, R. G.; Kadyk, J. A.; Kerth, L. T.; Kolomensky, Y. G.; Kukartsev, G.; Pegna, D. L.; Lynch, G.; Mir, L. M.; Orimoto, T. J.; Pripstein, M.; Roe, N. A.; Ronan, M. T.; Tackmann, K.; Wenzel, W. A.; Sanchez, P. A.; Hawkes, C. M.; Watson, A. T.; Held, T.; Koch, H.; Lewandowski, B.; Pelizaeus, M.; Schroeder, T.; Steinke, M.; Cottingham, W. N.; Walker, D.; Asgeirsson, D. J.; Cuhadar Donszelmann, T.; Fulsom, B. G.; Hearty, C.; Knecht, N. S.; Mattison, T. S.; McKenna, J. A.; Khan, A.; Saleem, M.; Teodorescu, L.; Blinov, V. E.; Bukin, A. D.; Druzhinin, V. P.; Golubev, V. B.; Onuchin, A. P.; Serednyakov, S. I.; Skovpen, Y. I.; Solodov, E. P.; Todyshev, K. Y.; Bondioli, M.; Curry, S.; Eschrich, I.; Kirkby, D.; Lankford, A. J.; Lund, P.; Mandelkern, M.; Martin, E. C.; Stoker, D. P.; Abachi, S.; Buchanan, C.; Foulkes, S. D.; Gary, J. W.; Liu, F.; Long, O.; Shen, B. C.; Zhang, L.; Paar, H. P.; Rahatlou, S.; Sharma, V.; Berryhill, J. W.; Campagnari, C.; Cunha, A.; Dahmes, B.; Hong, T. M.; Kovalskyi, D.; Richman, J. D.; Beck, T. W.; Eisner, A. M.; Flacco, C. J.; Heusch, C. A.; Kroseberg, J.; Lockman, W. S.; Schalk, T.; Schumm, B. A.; Seiden, A.; Williams, D. C.; Wilson, M. G.; Winstrom, L. O.; Chen, E.; Cheng, C. H.; Dvoretskii, A.; Fang, F.; Hitlin, D. G.; Narsky, I.; Piatenko, T.; Porter, F. C.; Mancinelli, G.; Meadows, B. T.; Mishra, K.; Sokoloff, M. D.; Blanc, F.; Bloom, P. C.; Chen, S.; Ford, W. T.; Hirschauer, J. F.; Kreisel, A.; Nagel, M.; Nauenberg, U.; Olivas, A.; Smith, J. G.; Ulmer, K. A.; Wagner, S. R.; Zhang, J.; Gabareen, A. M.; Soffer, A.; Toki, W. H.; Wilson, R. J.; Winklmeier, F.; Zeng, Q.; Altenburg, D. D.; Feltresi, E.; Hauke, A.; Jasper, H.; Merkel, J.; Petzold, A.; Spaan, B.; Wacker, K.; Brandt, T.; Klose, V.; Lacker, H. M.; Mader, W. F.; Nogowski, R.; Schubert, J.; Schubert, K. R.; Schwierz, R.; Sundermann, J. E.; Volk, A.; Bernard, D.; Bonneaud, G. R.; Latour, E.; Lombardo, V.; Thiebaux, C.; Verderi, M.; Clark, P. J.; Gradl, W.; Muheim, F.; Playfer, S.; Robertson, A. I.; Xie, Y.; Andreotti, Mirco; Bettoni, D.; Bozzi, C.; Calabrese, Roberto; Cecchi, Annalisa; Cibinetto, Gianluigi; Franchini, Paolo; Luppi, Eleonora; Negrini, Matteo; Petrella, Antonio; Piemontese, L.; Prencipe, Elisabetta; Santoro, Valentina; Anulli, F.; Baldini Ferroli, R.; Calcaterra, A.; de Sangro, R.; Finocchiaro, G.; Pacetti, S.; Patteri, P.; Peruzzi, I. M.; Piccolo, M.; Rama, M.; Zallo, A.; Buzzo, A.; Contri, R.; Lo Vetere, M.; Macri, M. M.; Monge, M. R.; Passaggio, S.; Patrignani, C.; Robutti, E.; Santroni, A.; Tosi, S.; Chaisanguanthum, K. S.; Morii, M.; Wu, J.; Dubitzky, R. S.; Marks, J.; Schenk, S.; Uwer, U.; Bard, D. J.; Dauncey, P. D.; Flack, R. L.; Nash, J. A.; Nikolich, M. B.; Vazquez, W. P.; Behera, P. K.; Chai, X.; Charles, M. J.; Mallik, U.; Meyer, N. T.; Ziegler, V.; Cochran, J.; Crawley, H. B.; Dong, L.; Eyges, V.; Meyer, W. T.; Prell, S.; Rosenberg, E. I.; Rubin, A. E.; Gritsan, A. V.; Guo, Z. J.; Lae, C. K.; Denig, A. G.; Fritsch, M.; Schott, G.; Arnaud, N.; Bequilleux, J.; Davier, M.; Grosdidier, G.; Hoecker, A.; Lepeltier, V.; Le Diberder, F.; Lutz, A. M.; Pruvot, S.; Rodier, S.; Roudeau, P.; Schune, M. H.; Serrano, J.; Sordini, V.; Stocchi, A.; Wang, W. F.; Wormser, G.; Lange, D. J.; Wright, D. M.; Chavez, C. A.; Forster, I. J.; Fry, J. R.; Gabathuler, E.; Gamet, R.; Hutchcroft, D. E.; Payne, D. J.; Schofield, K. C.; Touramanis, C.; Bevan, A. J.; George, K. A.; Di Lodovico, F.; Menges, W.; Sacco, R.; Cowan, G.; Flaecher, H. U.; Hopkins, D. A.; Jackson, P. S.; McMahon, T. R.; Salvatore, F.; Wren, A. C.; Brown, D. N.; Davis, C. L.; Allison, J.; Barlow, N. R.; Barlow, R. J.; Chia, Y. M.; Edgar, C. L.; Lafferty, G. D.; West, T. J.; J. I., Yi; Anderson, J.; Chen, C.; Jawahery, A.; Roberts, D. A.; Simi, G.; Tuggle, J. M.; Blaylock, G.; Dallapiccola, C.; Hertzbach, S. S.; Li, X.; Moore, T. B.; Salvati, E.; Saremi, S.; Cowan, R.; Fisher, P. H.; Sciolla, G.; Sekula, S. J.; Spitznagel, M.; Taylor, F.; Yamamoto, R. K.; Mclachlin, S. E.; Patel, P. M.; Robertson, S. H.; Lazzaro, A.; Palombo, F.; Bauer, J. M.; Cremaldi, L.; Eschenburg, V.; Godang, R.; Kroeger, R.; Sanders, D. A.; Summers, D. J.; Zhao, H. W.; Brunet, S.; Coto, D.; Simard, M.; Taras, P.; Viaud, F. B.; Nicholson, H.; De Nardo, G.; Fabozzi, F.; Lista, L.; Monorchio, D.; Sciacca, C.; Baak, M. A.; Raven, G.; Snoek, H. L.; Jessop, C. P.; LoSecco, J. M.; Benelli, G.; Corwin, L. A.; Gan, K. K.; Honscheid, K.; Hufnagel, D.; Kagan, H.; Kass, R.; Morris, J. P.; Rahimi, A. M.; Regensburger, J. J.; Ter Antonyan, R.; Wong, Q. K.; Blount, N. L.; Brau, J.; Frey, R.; Igonkina, O.; Kolb, J. A.; M. L. R.,; Sinev, N. B.; Strom, D.; Strube, J.; Torrence, E.; Gagliardi, N.; Gaz, A.; Margoni, M.; Morandin, M.; Pompili, A.; Posocco, M.; Rotondo, M.; Simonetto, F.; Stroili, R.; Voci, C.; Ben Haim, E.; Briand, H.; Chauveau, J.; David, P.; Del Buono, L.; De La, C.; Hamon, O.; Hartfiel, B. L.; Leruste, P.; Malcles, J.; Ocariz, J.; Perez, A.; Gladney, L.; Biasini, M.; Covarelli, R.; Manoni, E.; Angelini, C.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Calderini, G.; Carpinelli, M.; Cenci, R.; Cervelli, A.; Forti, F.; Giorgi, M. A.; Lusiani, A.; Marchiori, G.; Mazur, M. A.; Morganti, M.; Neri, N.; Paoloni, E.; Rizzo, G.; Walsh, J. J.; Haire, M.; Biesiada, J.; Elmer, P.; Lau, Y. P.; Lu, C.; Olsen, J.; A. J. S.,; Telnov, A. V.; Baracchini, E.; Bellini, F.; Cavoto, G.; D'Orazio, A.; del Re, D.; Di Marco, E.; Faccini, R.; Ferrarotto, F.; Ferroni, F.; Gaspero, M.; Jackson, P. D.; Gioi, L. L.; Mazzoni, M. A.; Morganti, S.; Piredda, G.; Polci, F.; Renga, F.; Voena, C.; Ebert, M.; Schroder, H.; Waldi, R.; Adye, T.; Castelli, G.; Franek, B.; Olaiya, E. O.; Ricciardi, S.; Roethel, W.; Wilson, F. F.; Aleksan, R.; Emery, S.; Escalier, M.; Gaidot, A.; Ganzhur, S. F.; G. H., De; Kozanecki, W.; Legendre, M.; Vasseur, G.; Yeche, C.; Zito, M.; Chen, X. R.; Liu, H.; Park, W.; Purohit, M. V.; Wilson, J. R.; Allen, M. T.; Aston, D.; Bartoldus, R.; Bechtle, P.; Berger, N.; Claus, R.; Coleman, J. P.; Convery, M. R.; Dingfelder, J. C.; Dorfan, J.; Dubois Felsmann, G. P.; Dujmic, D.; Dunwoodie, W.; Field, R. C.; Glanzman, T.; Gowdy, S. J.; Graham, M. T.; Grenier, P.; Hast, C.; Hryn'ova, T.; Innes, W. R.; Kelsey, M. H.; Kim, H.; Kim, P.; D. W. G.,; Li, S.; Luitz, S.; Luth, V.; Lynch, H. L.; MacFarlane, D. B.; Marsiske, H.; Messner, R.; Muller, D. R.; O'Grady, C. P.; Perazzo, A.; Perl, M.; Pulliam, T.; Ratcliff, B. N.; Roodman, A.; Salnikov, A. A.; Schindler, R. H.; Schwiening, J.; Snyder, A.; Stelzer, J.; Su, D.; Sullivan, M. K.; Suzuki, K.; Swain, S. K.; Thompson, J. M.; Va'vra, J.; van Bakel, N.; Wagner, A. P.; Weaver, M.; Wisniewski, W. J.; Wittgen, M.; Wright, D. H.; Yarritu, A. K.; Yi, K.; Young, C. C.; Burchat, P. R.; Edwards, A. J.; Majewski, S. A.; Petersen, B. A.; Wilden, L.; Ahmed, S.; Alam, M. S.; Bula, R.; Ernst, J. A.; Jain, V.; Pan, B.; Saeed, M. A.; Wappler, F. R.; Zain, S. B.; Bugg, W.; Krishnamurthy, M.; Spanier, S. M.; Eckmann, R.; Ritchie, J. L.; Ruland, A. M.; Schilling, C. J.; Schwitters, R. F.; Izen, J. M.; Lou, X. C.; Ye, S.; Bianchi, F.; Gallo, F.; Gamba, D.; Pelliccioni, M.; Bomben, M.; Bosisio, L.; Cartaro, C.; Cossutti, F.; Della Ricca, G.; Lanceri, L.; Vitale, L.; Azzolini, V.; Lopez March, N.; Martinez Vidal, F.; Milanes, D. A.; Oyanguren, A.; Albert, J.; Banerjee, S.; Bhuyan, B.; Hamano, K.; Kowalewski, R.; Nugent, I. M.; Roney, J. M.; Sobie, R. J.; Back, J. J.; Harrison, P. F.; Latham, T. E.; Mohanty, G. B.; Pappagallo, M.; Band, H. R.; Chen, X.; Dasu, S.; Flood, K. T.; Hollar, J. J.; Kutter, P. E.; Pan, Y.; Pierini, M.; Prepost, R.; S. L., Wu; Yu, Z.; Neal, H.

doi:10.1103/PhysRevLett.100.051802

We measure the absolute branching fraction for D-0 --> K-pi(+) using partial reconstruction of (B) over bar (0) --> D(*+)Xl(-)(nu) over bar (l) decays, in which only the charged lepton and the pion from the decay D*+ --> D-0 pi(+) are used. Based on a data sample of 230x10(6) (B) over bar pairs collected at the Y(4S) resonance with the BABAR detector at the PEP-II asymmetric-energy B factory at SLAC, we obtain B(D-0 --> K-pi(+))=(4.007 +/- 0.037 +/- 0.072)%, where the first uncertainty is statistical and the second is systematic.

Scheda prodotto non validato

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo

Data di pubblicazione:	2008
Titolo:	Measurement of the absolute branching fraction of D-0 -> K-pi(+)
Autori:	B. Aubert; M. Bona; D. Boutigny; Y. Karyotakis; J. P. Lees; V. Poireau; X. Prudent; V. Tisserand; A. Zghiche; J. G. Tico; E. Grauges; L. Lopez; A. Palano; G. Eigen; I. Ofte; B. Stugu; L. Sun; G. S. Abrams; M. Battaglia; D. N. Brown; J. Button-Shafer; R. N. Cahn; Y. Groysman; R. G. Jacobsen; J. A. Kadyk; L. T. Kerth; Y. G. Kolomensky; G. Kukartsev; D. L. Pegna; G. Lynch; L. M. Mir; T. J. Orimoto; M. Pripstein; N. A. Roe; M. T. Ronan; K. Tackmann; W. A. Wenzel; P. A. Sanchez; C. M. Hawkes; A. T. Watson; T. Held; H. Koch; B. Lewandowski; M. Pelizaeus; T. Schroeder; M. Steinke; W. N. Cottingham; D. Walker; D. J. Asgeirsson; T. Cuhadar-Donszelmann; B. G. Fulsom; C. Hearty; N. S. Knecht; T. S. Mattison; J. A. McKenna; A. Khan; M. Saleem; L. Teodorescu; V. E. Blinov; A. D. Bukin; V. P. Druzhinin; V. B. Golubev; A. P. Onuchin; S. I. Serednyakov; Y. I. Skovpen; E. P. Solodov; K. Y. Todyshev; M. Bondioli; S. Curry; I. Eschrich; D. Kirkby; A. J. Lankford; P. Lund; M. Mandelkern; E. C. Martin; D. P. Stoker; S. Abachi; C. Buchanan; S. D. Foulkes; J. W. Gary; F. Liu; O. Long; B. C. Shen; L. Zhang; H. P. Paar; S. Rahatlou; V. Sharma; J. W. Berryhill; C. Campagnari; A. Cunha; B. Dahmes; T. M. Hong; D. Kovalskyi; J. D. Richman; T. W. Beck; A. M. Eisner; C. J. Flacco; C. A. Heusch; J. Kroseberg; W. S. Lockman; T. Schalk; B. A. Schumm; A. Seiden; D. C. Williams; M. G. Wilson; L. O. Winstrom; E. Chen; C. H. Cheng; A. Dvoretskii; F. Fang; D. G. Hitlin; I. Narsky; T. Piatenko; F. C. Porter; G. Mancinelli; B. T. Meadows; K. Mishra; M. D. Sokoloff; F. Blanc; P. C. Bloom; S. Chen; W. T. Ford; J. F. Hirschauer; A. Kreisel; M. Nagel; U. Nauenberg; A. Olivas; J. G. Smith; K. A. Ulmer; S. R. Wagner; J. Zhang; A. M. Gabareen; A. Soffer; W. H. Toki; R. J. Wilson; F. Winklmeier; Q. Zeng; D. D. Altenburg; E. Feltresi; A. Hauke; H. Jasper; J. Merkel; A. Petzold; B. Spaan; K. Wacker; T. Brandt; V. Klose; H. M. Lacker; W. F. Mader; R. Nogowski; J. Schubert; K. R. Schubert; R. Schwierz; J. E. Sundermann; A. Volk; D. Bernard; G. R. Bonneaud; E. Latour; V. Lombardo; C. Thiebaux; M. Verderi; P. J. Clark; W. Gradl; F. Muheim; S. Playfer; A. I. Robertson; Y. Xie; M. Andreotti; D. Bettoni; C. Bozzi; R. Calabrese; A. Cecchi; G. Cibinetto; P. Franchini; E. Luppi; M. Negrini; A. Petrella; L. Piemontese; E. Prencipe; V. Santoro; F. Anulli; R. Baldini-Ferroli; A. Calcaterra; R. de Sangro; G. Finocchiaro; S. Pacetti; P. Patteri; I. M. Peruzzi; M. Piccolo; M. Rama; A. Zallo; A. Buzzo; R. Contri; M. Lo Vetere; M. M. Macri; M. R. Monge; S. Passaggio; C. Patrignani; E. Robutti; A. Santroni; S. Tosi; K. S. Chaisanguanthum; M. Morii; J. Wu; R. S. Dubitzky; J. Marks; S. Schenk; U. Uwer; D. J. Bard; P. D. Dauncey; R. L. Flack; J. A. Nash; M. B. Nikolich; W. P. Vazquez; P. K. Behera; X. Chai; M. J. Charles; U. Mallik; N. T. Meyer; V. Ziegler; J. Cochran; H. B. Crawley; L. Dong; V. Eyges; W. T. Meyer; S. Prell; E. I. Rosenberg; A. E. Rubin; A. V. Gritsan; Z. J. Guo; C. K. Lae; A. G. Denig; M. Fritsch; G. Schott; N. Arnaud; J. Bequilleux; M. Davier; G. Grosdidier; A. Hoecker; V. Lepeltier; F. Le Diberder; A. M. Lutz; S. Pruvot; S. Rodier; P. Roudeau; M. H. Schune; J. Serrano; V. Sordini; A. Stocchi; W. F. Wang; G. Wormser; D. J. Lange; D. M. Wright; C. A. Chavez; I. J. Forster; J. R. Fry; E. Gabathuler; R. Gamet; D. E. Hutchcroft; D. J. Payne; K. C. Schofield; C. Touramanis; A. J. Bevan; K. A. George; F. Di Lodovico; W. Menges; R. Sacco; G. Cowan; H. U. Flaecher; D. A. Hopkins; P. S. Jackson; T. R. McMahon; F. Salvatore; A. C. Wren; D. N. Brown; C. L. Davis; J. Allison; N. R. Barlow; R. J. Barlow; Y. M. Chia; C. L. Edgar; G. D. Lafferty; T. J. West; J. I. Yi; J. Anderson; C. Chen; A. Jawahery; D. A. Roberts; G. Simi; J. M. Tuggle; G. Blaylock; C. Dallapiccola; S. S. Hertzbach; X. Li; T. B. Moore; E. Salvati; S. Saremi; R. Cowan; P. H. Fisher; G. Sciolla; S. J. Sekula; M. Spitznagel; F. Taylor; R. K. Yamamoto; S. E. Mclachlin; P. M. Patel; S. H. Robertson; A. Lazzaro; F. Palombo; J. M. Bauer; L. Cremaldi; V. Eschenburg; R. Godang; R. Kroeger; D. A. Sanders; D. J. Summers; H. W. Zhao; S. Brunet; D. Coto; M. Simard; P. Taras; F. B. Viaud; H. Nicholson; G. De Nardo; F. Fabozzi; L. Lista; D. Monorchio; C. Sciacca; M. A. Baak; G. Raven; H. L. Snoek; C. P. Jessop; J. M. LoSecco; G. Benelli; L. A. Corwin; K. K. Gan; K. Honscheid; D. Hufnagel; H. Kagan; R. Kass; J. P. Morris; A. M. Rahimi; J. J. Regensburger; R. Ter-Antonyan; Q. K. Wong; N. L. Blount; J. Brau; R. Frey; O. Igonkina; J. A. Kolb; M. L. R.; N. B. Sinev; D. Strom; J. Strube; E. Torrence; N. Gagliardi; A. Gaz; M. Margoni; M. Morandin; A. Pompili; M. Posocco; M. Rotondo; F. Simonetto; R. Stroili; C. Voci; E. Ben-Haim; H. Briand; J. Chauveau; P. David; L. Del Buono; C. de la; O. Hamon; B. L. Hartfiel; P. Leruste; J. Malcles; J. Ocariz; A. Perez; L. Gladney; M. Biasini; R. Covarelli; E. Manoni; C. Angelini; G. Batignani; S. Bettarini; G. Calderini; M. Carpinelli; R. Cenci; A. Cervelli; F. Forti; M. A. Giorgi; A. Lusiani; G. Marchiori; M. A. Mazur; M. Morganti; N. Neri; E. Paoloni; G. Rizzo; J. J. Walsh; M. Haire; J. Biesiada; P. Elmer; Y. P. Lau; C. Lu; J. Olsen; A. J. S.; A. V. Telnov; E. Baracchini; F. Bellini; G. Cavoto; A. D'Orazio; D. del Re; E. Di Marco; R. Faccini; F. Ferrarotto; F. Ferroni; M. Gaspero; P. D. Jackson; L. L. Gioi; M. A. Mazzoni; S. Morganti; G. Piredda; F. Polci; F. Renga; C. Voena; M. Ebert; H. Schroder; R. Waldi; T. Adye; G. Castelli; B. Franek; E. O. Olaiya; S. Ricciardi; W. Roethel; F. F. Wilson; R. Aleksan; S. Emery; M. Escalier; A. Gaidot; S. F. Ganzhur; G. H. de; W. Kozanecki; M. Legendre; G. Vasseur; C. Yeche; M. Zito; X. R. Chen; H. Liu; W. Park; M. V. Purohit; J. R. Wilson; M. T. Allen; D. Aston; R. Bartoldus; P. Bechtle; N. Berger; R. Claus; J. P. Coleman; M. R. Convery; J. C. Dingfelder; J. Dorfan; G. P. Dubois-Felsmann; D. Dujmic; W. Dunwoodie; R. C. Field; T. Glanzman; S. J. Gowdy; M. T. Graham; P. Grenier; C. Hast; T. Hryn'ova; W. R. Innes; M. H. Kelsey; H. Kim; P. Kim; D. W. G.; S. Li; S. Luitz; V. Luth; H. L. Lynch; D. B. MacFarlane; H. Marsiske; R. Messner; D. R. Muller; C. P. O'Grady; A. Perazzo; M. Perl; T. Pulliam; B. N. Ratcliff; A. Roodman; A. A. Salnikov; R. H. Schindler; J. Schwiening; A. Snyder; J. Stelzer; D. Su; M. K. Sullivan; K. Suzuki; S. K. Swain; J. M. Thompson; J. Va'vra; N. van Bakel; A. P. Wagner; M. Weaver; W. J. Wisniewski; M. Wittgen; D. H. Wright; A. K. Yarritu; K. Yi; C. C. Young; P. R. Burchat; A. J. Edwards; S. A. Majewski; B. A. Petersen; L. Wilden; S. Ahmed; M. S. Alam; R. Bula; J. A. Ernst; V. Jain; B. Pan; M. A. Saeed; F. R. Wappler; S. B. Zain; W. Bugg; M. Krishnamurthy; S. M. Spanier; R. Eckmann; J. L. Ritchie; A. M. Ruland; C. J. Schilling; R. F. Schwitters; J. M. Izen; X. C. Lou; S. Ye; F. Bianchi; F. Gallo; D. Gamba; M. Pelliccioni; M. Bomben; L. Bosisio; C. Cartaro; F. Cossutti; G. Della Ricca; L. Lanceri; L. Vitale; V. Azzolini; N. Lopez-March; F. Martinez-Vidal; D. A. Milanes; A. Oyanguren; J. Albert; S. Banerjee; B. Bhuyan; K. Hamano; R. Kowalewski; I. M. Nugent; J. M. Roney; R. J. Sobie; J. J. Back; P. F. Harrison; T. E. Latham; G. B. Mohanty; M. Pappagallo; H. R. Band; X. Chen; S. Dasu; K. T. Flood; J. J. Hollar; P. E. Kutter; Y. Pan; M. Pierini; R. Prepost; S. L. Wu; Z. Yu; H. Neal
Rivista:	PHYSICAL REVIEW LETTERS
Parole Chiave:	D meson; K meson; branching ratio
Abstract:	We measure the absolute branching fraction for D-0 --> K-pi(+) using partial reconstruction of (B) over bar (0) --> D(+)Xl(-)(nu) over bar (l) decays, in which only the charged lepton and the pion from the decay D+ --> D-0 pi(+) are used. Based on a data sample of 230x10(6) (B) over bar pairs collected at the Y(4S) resonance with the BABAR detector at the PEP-II asymmetric-energy B factory at SLAC, we obtain B(D-0 --> K-pi(+))=(4.007 +/- 0.037 +/- 0.072)%, where the first uncertainty is statistical and the second is systematic.
Digital Object Identifier (DOI):	10.1103/PhysRevLett.100.051802
Handle:	http://hdl.handle.net/11392/533303
Appare nelle tipologie:	03.1 Articolo su rivista

File in questo prodotto:

Non ci sono file associati a questo prodotto.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
http://hdl.handle.net/11392/533303

Citazioni

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

CINECA IRIS Institutional Research Information System

Scheda prodotto non validato

File in questo prodotto: