Scopo di questo progetto è l'implementazione, su microscopi SNOM, dell'analisi della polarizzazione della luce per applicazioni allo studio delle proprietà magnetiche della materia sulla scala di alcune decine di nanometri, trasferendo le tecniche classiche di magnetometria magneto-ottica ad effetto Kerr (Magneto-Optical Kerr Effect, MOKE) o a rotazione Faraday a strumenti SNOM. L’implementazione di queste tecniche renderebbe lo SNOM uno strumento complementare ad altre tecniche a scansione come i microscopi a forza atomica o magnetica (AFM-MFM). Il progetto si basa sulla cooperazione di due gruppi, operanti uno presso l’Università di Ferrara e l’altro presso il Politecnico di Milano, che hanno sviluppato nel corso degli anni vaste esperienze nel campo dello studio delle proprietà di sistemi magnetici a bassa dimensionalità. Il progetto è motivato dall’importanza della conoscenza della struttura e della dinamica dei domini magnetici con alta risoluzione laterale per la comprensione dei fenomeni che si manifestano in strutture nanometriche. Questi sono all’origine di una grandissima varietà di comportamenti magnetici di grande interesse sia per motivi legati alla fisica fondamentale, sia per motivi tecnologici, con potenziali applicazioni in dispositivi per l'immagazzinamento dell'informazione, per testine di lettura e scrittura, per sensori e dispositivi elettronici.
(PRIN 2004) - Microscopia ottica a scansione a campo prossimo con analisi della polarizzazione della luce per microscopia magnetica e nano-magnetometria
VAVASSORI, Paolo
2004
Abstract
Scopo di questo progetto è l'implementazione, su microscopi SNOM, dell'analisi della polarizzazione della luce per applicazioni allo studio delle proprietà magnetiche della materia sulla scala di alcune decine di nanometri, trasferendo le tecniche classiche di magnetometria magneto-ottica ad effetto Kerr (Magneto-Optical Kerr Effect, MOKE) o a rotazione Faraday a strumenti SNOM. L’implementazione di queste tecniche renderebbe lo SNOM uno strumento complementare ad altre tecniche a scansione come i microscopi a forza atomica o magnetica (AFM-MFM). Il progetto si basa sulla cooperazione di due gruppi, operanti uno presso l’Università di Ferrara e l’altro presso il Politecnico di Milano, che hanno sviluppato nel corso degli anni vaste esperienze nel campo dello studio delle proprietà di sistemi magnetici a bassa dimensionalità. Il progetto è motivato dall’importanza della conoscenza della struttura e della dinamica dei domini magnetici con alta risoluzione laterale per la comprensione dei fenomeni che si manifestano in strutture nanometriche. Questi sono all’origine di una grandissima varietà di comportamenti magnetici di grande interesse sia per motivi legati alla fisica fondamentale, sia per motivi tecnologici, con potenziali applicazioni in dispositivi per l'immagazzinamento dell'informazione, per testine di lettura e scrittura, per sensori e dispositivi elettronici.I documenti in SFERA sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
