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EnglishLow-order improved XFEM with equivalent eigenstrain for the determination of stress intensity factors / Benvenuti, E.. - ELETTRONICO. - (2017), pp. 1-1. ((Intervento presentato al convegno X-DMS 2017 tenutosi a Umea nel 19-21 Giugno 2017.
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| Titolo: | Low-order improved XFEM with equivalent eigenstrain for the determination of stress intensity factors |
| Autori: | |
| Data di pubblicazione: | 2017 |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11392/2373553 |
| Appare nelle tipologie: | 04.3 Abstract (Riassunto) in convegno in Rivista/Volume |
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