Low-order improved XFEM with equivalent eigenstrain for the determination of stress intensity factors / Benvenuti, E.. - ELETTRONICO. - (2017), pp. 1-1. ((Intervento presentato al convegno X-DMS 2017 tenutosi a Umea nel 19-21 Giugno 2017.
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Titolo: | Low-order improved XFEM with equivalent eigenstrain for the determination of stress intensity factors | |
Autori: | ||
Data di pubblicazione: | 2017 | |
Handle: | http://hdl.handle.net/11392/2373553 | |
Appare nelle tipologie: | 04.3 Abstract (Riassunto) in convegno in Rivista/Volume |
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