Radiation hardness tests of the CLARO8 ASIC, designed in AMS 0.35micron CMOS technology for the upgrade of the CERN LHCb RICH detectors, are presented, including measurements of total-ionizing dose and single event effects.

Radiation Hardness of the CLARO8 ASIC: a Fast Single-Photon Counting Chip for the LHCb Experiment at CERN

ANDREOTTI, Mirco;CALABRESE, Roberto;FIORINI, Massimiliano;LUPPI, Eleonora;MINZONI, Luca;PAPPALARDO, Luciano Libero;TOMASSETTI, Luca
2016

Abstract

Radiation hardness tests of the CLARO8 ASIC, designed in AMS 0.35micron CMOS technology for the upgrade of the CERN LHCb RICH detectors, are presented, including measurements of total-ionizing dose and single event effects.
9781509051144
Electrical and Electronic Engineering; Radiation; Nuclear and High Energy Physics
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11392/2370963
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo

Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 3
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 2
social impact