SFERA Archivio dei prodotti della Ricerca dell'Università di Ferrara

RicercaInizia una nuova ricerca

NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.

cerca in
Risultati 71 - 80 di 180 (tempo di esecuzione: 0.014 secondi).
Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
EM-based Modeling of Cascode FETs Suitable for MMIC Design 2009 D., Resca; J. A., Lonac; R., Cignani; Raffo, Antonio; A., Santarelli; Vannini, Giorgio; F., Filicori file con accesso da definire
EM-based Parasitic Elements Identification For Scalable Electron Device Modelling 2007 D., Resca; A., Santarelli; Raffo, Antonio; R., Cignani; Vannini, Giorgio; F., Filicori file con accesso da definire
Empirical Investigation on Device-Degradation Indicators Under Nonlinear Dynamic Regime 2010 Raffo, Antonio; DI FALCO, Sergio; G., Sozzi; R., Menozzi; D., Schreurs; Vannini, Giorgio file con accesso da definire
Empirical Investigation on Time Dispersion of Microwave Electron Device Characteristics under Nonlinear Dynamic Operating Conditions 2007 Raffo, Antonio; DI GIACOMO, Valeria; P. A., Traverso; A., Santarelli; Vannini, Giorgio file con accesso da definire
Empirical modeling of low-frequency dispersive effects due to traps and thermal phenomena in III-V FETs 1995 F., Filicori; Vannini, Giorgio; A., Santarelli; A., Mediavilla; A., Tazon; Y., Newport file con accesso da definire
Empowering GaN-Si HEMT Nonlinear Modelling for Doherty Power Amplifier Design 2021 Bosi, G.; Raffo, A.; Giofre, R.; Vadala, Valeria; Vannini, G.; Limiti, E.
Equivalent-voltage description of dispersive effects for accurate large-signal transistor modeling 2002 Santarelli, A.; Zucchelli, G.; Paganelli, R. P.; Vannini, Giorgio; Filicori, F. file con accesso da definire
Equivalent-voltage description of low-frequency dispersive effects in large-signal FET models 2001 A., Santarelli; G., Zucchelli; R., Paganelli; Vannini, Giorgio; F., Filicori file con accesso da definire
Evaluation of FET performance and restrictions by low-frequency measurements 2014 Vadala', Valeria; Raffo, Antonio; Paolo, Colantonio; Elisa, Cipriani; Franco, Giannini; Claudio, ...Lanzieri; Alessio, Pantellini; Nalli, Andrea; Bosi, Gianni; Vannini, Giorgio file con accesso da definire
Evaluation of high-voltage transistor reliability under nonlinear dynamic operation 2017 Bosi, Gianni; Raffo, Antonio; Vadala', Valeria; Trevisan, Francesco; Formicone, Gabriele; Burger,... Jeff; Custer, James; Vannini, Giorgio file con accesso da definire
Risultati 71 - 80 di 180 (tempo di esecuzione: 0.014 secondi).
↑ Back to top
Legenda icone

  •  file ad accesso aperto
  •  file disponibili solo agli amministratori
  •  file sotto embargo
  •  nessun file disponibile

Aggiungere filtri:  
Aggiungi
Opzioni
Scopri
Tipologia
  • 04 Atto di Convegno (Proceedings) 180
  • 04 Atto di Convegno (Proceedings)... 180
Autore
  • RAFFO, Antonio 94
  • VADALA', Valeria 42
  • BOSI, Gianni 37
  • DI FALCO, Sergio 12
  • DI GIACOMO, Valeria 7
  • NALLI, ANDREA 7
  • CIGNANI, Rafael 6
  • PETROCCHI, Alessandra 3
  • PIRAZZINI, Massimo 3
  • TREVISAN, Francesco 3
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2022 9
  • 2010 - 2019 59
  • 2000 - 2009 71
  • 1990 - 1999 38
  • 1989 - 1989 3
Editore
  • IEEE 44
  • Institute of Electrical and Elect... 31
  • GAAS Association 21
  • EuMA 14
  • IEEE - Institute of Electrical an... 12
  • Horizon House 10
  • IEEE Computer Society 6
  • Forschungszentrum Telekommunikati... 5
  • EUMA 4
  • Microwave Exhibitions and Publishers 4
Serie
  • IEEE MTT-S INTERNATIONAL MICROWAV... 1
  • MEDITERRANEAN MICROWAVE SYMPOSIUM 1
Keyword
  • Electrical and Electronic Enginee... 16
  • Computer Networks and Communications 9
  • power amplifiers 8
  • GaN 6
  • Instrumentation 6
  • Hardware and Architecture 5
  • HEMTs 5
  • HEMT 4
  • microwave FET 4
  • semiconductor device measurements 4
Lingua
  • eng 178
  • ita 2
Accesso al fulltext
  • no fulltext 168
  • reserved 12