Diversi approcci di modellistica non lineare per dispositivi elettronici sono stati proposti negli ultimi anni e spesso i progettisti di circuiti elettronici denunciano la mancanza di criteri di confronto attendibili sulla base dei quali identificare quale modello potrebbe essere il più adatto per la loro specifica applicazione. Inoltre simili strategie di confronto risulterebbero necessarie anche per i gruppi di ricerca dediti all’identificazione ed all’estrazione di modelli, al fine di quantificare il grado di accuratezza ottenibile con l’approccio di modelling considerato. In questo lavoro viene presentato un nuovo criterio di confronto per la stima dell’accuratezza dei modelli in condizioni di grande segnale, basato sul confronto, in funzione della polarizzazione, tra misure e modello dei parametri ammettenza a piccolo segnale alle porte intrinseche del dispositivo.
Figure di Merito e Metodologia di Confronto per Modelli Non Lineari di Dispositivi Elettronici a Microonde
RAFFO, Antonio;
2006
Abstract
Diversi approcci di modellistica non lineare per dispositivi elettronici sono stati proposti negli ultimi anni e spesso i progettisti di circuiti elettronici denunciano la mancanza di criteri di confronto attendibili sulla base dei quali identificare quale modello potrebbe essere il più adatto per la loro specifica applicazione. Inoltre simili strategie di confronto risulterebbero necessarie anche per i gruppi di ricerca dediti all’identificazione ed all’estrazione di modelli, al fine di quantificare il grado di accuratezza ottenibile con l’approccio di modelling considerato. In questo lavoro viene presentato un nuovo criterio di confronto per la stima dell’accuratezza dei modelli in condizioni di grande segnale, basato sul confronto, in funzione della polarizzazione, tra misure e modello dei parametri ammettenza a piccolo segnale alle porte intrinseche del dispositivo.I documenti in SFERA sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
