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An Innovative Two-Source Large-Signal Measurement System for the Characterization of Low-Frequency Dispersive Effects in FETs 2008 Raffo, Antonio; Vadala', Valeria; P. A., Traverso; A., Santarelli; Vannini, Giorgio; F., Filicori file con accesso da definire
A New Empirical Model for the Characterization of Low-Frequency Dispersive Effects in FET Electron Devices Accounting for Thermal Influence on the Trapping State 2008 Raffo, Antonio; Vadala', Valeria; Vannini, Giorgio; A., Santarelli file con accesso da definire
Class-A Power Amplifier Design Technique Based on Electron Device Low-Frequency Characterization 2009 Raffo, Antonio; DI FALCO, Sergio; Vadala', Valeria; F., Scappaviva; Vannini, Giorgio file con accesso da definire
Experimental Investigation of LF dispersion and IMD asymmetry within GaN based HEMT technology 2010 G., Avolio; Raffo, Antonio; D., Schreurs; Vadala', Valeria; DI FALCO, Sergio; W., Deraedt; B., Na...uwelaers; Vannini, Giorgio file con accesso da definire
CHARACTERIZATION AND MODELING OF LOW FREQUENCY DISPERSIVE EFFECTS IN III-V ELECTRON DEVICES 2010 Vadala', Valeria
Nonlinear Dispersive Modeling of Electron Devices Oriented to GaN Power Amplifier Design 2010 Raffo, Antonio; Vadala', Valeria; D., Schreurs; G., Crupi; G., Avolio; A., Caddemi; Vannini, Giorgio file con accesso da definire
Characterization of GaN HEMT Low-Frequency Dispersion Through a Multi-Harmonic Measurement System 2010 Raffo, Antonio; DI FALCO, Sergio; Vadala', Valeria; Vannini, Giorgio file con accesso da definire
Characterization of Electron Device Breakdown Under Nonlinear Dynamic Operation 2010 Raffo, Antonio; DI FALCO, Sergio; Vadala', Valeria; Vannini, Giorgio file con accesso da definire
A Low-Cost and Accurate Technique for the Prediction of Load-Pull Contours 2010 Vadala', Valeria; Raffo, Antonio; DI FALCO, Sergio; Vannini, Giorgio file con accesso da definire
“Hybrid” Approach to Microwave Power Amplifier Design 2010 Raffo, Antonio; Vadala', Valeria; DI FALCO, Sergio; F., Scappaviva; Vannini, Giorgio file con accesso da definire
A new approach to Class-E power amplifier design 2011 A., Musio; Vadala', Valeria; F., Scappaviva; Raffo, Antonio; DI FALCO, Sergio; Vannini, Giorgio file con accesso da definire
Accurate GaN HEMT nonquasi-static large-signal model including dispersive effects 2011 G., Crupi; Raffo, Antonio; D. M. M. P., Schreurs; G., Avolio; Vadala', Valeria; DI FALCO, Sergio;... A., Caddemi; Vannini, Giorgio file con accesso da definire
On the evaluation of the high-frequency load line in active devices 2011 Raffo, Antonio; G., Avolio; D., Schreurs; DI FALCO, Sergio; Vadala', Valeria; F., Scappaviva; G.,... Crupi; B., Nauwelaers; Vannini, Giorgio file con accesso da definire
GaN HEMT Nonlinear Characterization for Wideband High-Power Amplifier Design 2011 Vadala', Valeria; Raffo, Antonio; DI FALCO, Sergio; Vannini, Giorgio file con accesso da definire
Low-Frequency Waveform Engineering Technique for Class-F Microwave Power Amplifier Design 2011 DI FALCO, Sergio; Raffo, Antonio; Vannini, Giorgio; Vadala', Valeria file con accesso da definire
GaN HEMT large-signal model accounting for both low-frequency dispersion and high-frequency non-quasi-static effects 2011 Crupi, G.; Raffo, Antonio; Schreurs, D. M. M.; Avolio, G.; Vadala', Valeria; DI FALCO, Sergio; Ca...ddemi, A.; Vannini, Giorgio file con accesso da definire
A dual-source nonlinear measurement system oriented to the empirical characterization of low-frequency dispersion in microwave electron devices 2011 Raffo, Antonio; Vadala', Valeria; P. A., Traverso; A., Santarelli; Vannini, Giorgio; F., Filicori file con accesso da definire
NONLINEAR EMBEDDING AND DE-EMBEDDING TECHNIQUES FOR LARGE-SIGNAL FET MEASUREMENTS 2012 Vadala', Valeria; G., Avolio; Raffo, Antonio; D. M. M. P., Schreurs; Vannini, Giorgio file con accesso da definire
Transistor Vector Load-Pull Characterization for Millimeter-Wave Power Amplifier Design 2012 Vadala', Valeria; Raffo, Antonio; Bosi, Gianni; G., Crupi; Vannini, Giorgio file con accesso da definire
Influence of the Gate Current Dynamic Behaviour on GaAs HEMT Reliability Issues 2012 Vadala', Valeria; G., Avolio; Bosi, Gianni; Raffo, Antonio; D., Schreurs; Vannini, Giorgio file con accesso da definire
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